文献
J-GLOBAL ID:201802255644327244
整理番号:18A2209760
グラフェンサンドイッチによる超高圧雰囲気電子顕微鏡観察法
High-pressure Electron Microscopy with Graphene Sandwich
著者 (2件):
佐々木祐生
(一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所)
,
川崎忠寛
(一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所)
資料名:
まてりあ
(Materia Japan)
巻:
57
号:
12
ページ:
610(J-STAGE)
発行年:
2018年
JST資料番号:
F0163A
ISSN:
1340-2625
CODEN:
MTERE2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)