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著者 (13件)：
資料名：
巻： 2018 号： ISDEIV ページ： 173-176 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201802266286190504
整理番号：18A2110779
電流遮断後に放出された微粒子に起因する遅発絶縁破壊現象【JST・京大機械翻訳】
Late Dielectric Breakdown Phenomenon Caused by Microparticles Released after Current Interruption
Hachiman Yuto
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
,
Kaneko Eiji
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
,
Yamano Yasushi
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Iwabuchi Hiroyuki
(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Kanagawa, Japan)
,
Hidaka Kunihiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Oshiro Fumiya
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
,
Inada Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Maeyama Mitsuaki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Ejiri Haruki
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Nagayo Yuma
(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Okinawa, Japan)
,
Taguchi Yuki
(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)
,
Kitabayashi Yusuke
(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Kanagawa, Japan)
,
Kumada Akiko
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ISDEIV ページ： 173-176 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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