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資料名：
巻： 117 号： 372(EID2017 11-29) ページ： 29-34 発行年： 2017年12月15日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：201802276720545289
整理番号：18A0118522
レアメタルフリー酸化物半導体のゼーベック効果測定
Seebeck effect measurement of rare metal free oxide semiconductor
野村竜生
(龍谷大)
,
荒牧達也
(龍谷大)
,
松田時宜
(龍谷大)
,
梅田鉄馬
(奈良先端科学技術大学院大)
,
上沼睦典
(奈良先端科学技術大学院大)
,
木村睦
(龍谷大)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 117 号： 372(EID2017 11-29) ページ： 29-34 発行年： 2017年12月15日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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