文献
J-GLOBAL ID:201802278171356941
整理番号:18A1810939
相変化メモリの信頼性と歩留り向上のための適応ECC技術【JST・京大機械翻訳】
Adaptive ECC Techniques for Reliability and Yield Enhancement of Phase Change Memory
著者 (3件):
Lu Shyue-Kung
(Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan)
,
Li Hui-Ping
(Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan)
,
Miyase Kohei
(Dept. Creative Informatics, Kyushu Institute of Technology, Fukuoka, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
IOLTS
ページ:
226-227
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)