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著者 (7件)：
資料名：
巻： 55th ページ： 64 発行年： 2018年06月20日
JST資料番号： S0636B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：201802283585904425
整理番号：18A1365906
低速陽電子ビームによるシリカプラズマ重合膜のサブナノ細孔解析
吉本茂
(東レリサーチセ)
,
吉本茂
(産業技術総合研)
,
伊藤賢志
(産業技術総合研)
,
熊谷和博
(産業技術総合研)
,
細見博之
(東レリサーチセ)
,
竹田正明
(東レリサーチセ)
,
都留稔了
(広島大)
資料名：
アイソトープ・放射線研究発表会要旨集
巻： 55th ページ： 64 発行年： 2018年06月20日
JST資料番号： S0636B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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