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J-GLOBAL ID:201802284437854268   整理番号:18A2207303

大気中光電子収量分光分析による有機薄膜半導体のエネルギー準位の測定

Investigation for Energy Levels of an Organic Thin-film Semiconductor by Photoemission Yield Spectroscopy in Air
著者 (4件):
小汲佳祐
(地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター)
藤巻康人
(地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター)
中川貴文
(東京大学大学院工学系研究科機械工学専攻)
松尾豊
(東京大学大学院工学系研究科機械工学専攻)

資料名:
分析化学

巻: 67  号: 11  ページ: 647-651(J-STAGE)  発行年: 2018年 
JST資料番号: F0008A  ISSN: 0525-1931  CODEN: BNSKAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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