文献
J-GLOBAL ID:201802286121367970
整理番号:18A1077339
シンクロトロンX線回折による表面および界面の構造の観察:原子スケールイメージングと時間分解測定
Observation of Structure of Surfaces and Interfaces by Synchrotron X-ray Diffraction: Atomic-Scale Imaging and Time-Resolved Measurements
著者 (4件):
WAKABAYASHI Yusuke
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SHIRASAWA Tetsuroh
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
VOEGELI Wolfgang
(Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN)
,
TAKAHASHI Toshio
(Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of the Physical Society of Japan
(Journal of the Physical Society of Japan)
巻:
87
号:
6
ページ:
061010.1-061010.12
発行年:
2018年06月15日
JST資料番号:
G0509A
ISSN:
0031-9015
CODEN:
JUPSA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)