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文献
J-GLOBAL ID:201802288785349492   整理番号:18A1493774

放射光白色X線を利用したラウエ回折による新たなひずみ評価技術開発

著者 (6件):
城鮎美
(量研機構)
齋藤寛之
(量研機構)
菖蒲敬久
(原子力発電技術機構)
豊川秀訓
(JASRI)
佐治超爾
(JASRI)
川瀬守弘
(JASRI)

資料名:
X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)

巻: 52nd  ページ: 79-81  発行年: 2018年 
JST資料番号: F0605B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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