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J-GLOBAL ID:201802290039235629   整理番号:18A0025951

反復ストレスの回路およびシナプス機構:異なる文脈,継続時間,開発からの展望【Powered by NICT】

Circuit and synaptic mechanisms of repeated stress: Perspectives from differing contexts, duration, and development
著者 (7件):
Bath Kevin G.
(Department of Cognitive Linguistic and Psychological Sciences, Brown University, Providence, RI 02912, United States)
Russo Scott J.
(Fishberg Department of Neuroscience and Friedman Brain Institute, Icahn School of Medicine at Mount Sinai, New York, NY 10029, United States)
Pleil Kristen E.
(Department of Pharmacology, Weill Cornell Medical College, New York, NY 10065, United States)
Wohleb Eric S.
(Department of Psychiatry, University of Cincinnati College of Medicine, Cincinnati, OH 45237, United States)
Wohleb Eric S.
(Department of Psychiatry, Yale School of Medicine, New Haven, CT 06508, United States)
Duman Ronald S.
(Department of Psychiatry, Yale School of Medicine, New Haven, CT 06508, United States)
Radley Jason J.
(Department of Psychological and Brain Sciences, University of Iowa, Iowa City, IA 52242, United States)

資料名:
Neurobiology of Stress  (Neurobiology of Stress)

巻:ページ: 137-151  発行年: 2017年 
JST資料番号: W3048A  ISSN: 2352-2895  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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