文献
J-GLOBAL ID:201902215201479861
整理番号:19A1090740
シリコンの2キュービットゲートに対する忠実度のベンチマーク
Fidelity benchmarks for two-qubit gates in silicon
著者 (14件):
HUANG W.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
YANG C. H.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
CHAN K. W.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
TANTTU T.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
HENSEN B.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
LEON R. C. C.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
FOGARTY M. A.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
HWANG J. C. C.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
HUDSON F. E.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
MORELLO A.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
LAUCHT A.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
DZURAK A. S.
(Univ. New South Wales, New South Wales, AUS)
,
FOGARTY M. A.
(Univ. Coll. London, London, GBR)
,
ITOH K. M.
(Keio Univ., Yokohama, JPN)
資料名:
Nature (London)
(Nature (London))
巻:
569
号:
7757
ページ:
532-536
発行年:
2019年05月23日
JST資料番号:
D0193B
ISSN:
0028-0836
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)