文献
J-GLOBAL ID:201902217693855139
整理番号:19A1305667
マルチチップ電界陰極の放出特性のゆらぎ【JST・京大機械翻訳】
Fluctuations of the emission characteristics of multi-tip field cathodes
著者 (4件):
Kolosko Anatoly G.
(Ioffe Institute, ul. Polytechnitscheskaya 26, St. Petersburg 194021, Russia)
,
Popov Eugeni O.
(Ioffe Institute, ul. Polytechnitscheskaya 26, St. Petersburg 194021, Russia)
,
Filippov Sergey V.
(Ioffe Institute, ul. Polytechnitscheskaya 26, St. Petersburg 194021, Russia)
,
Gotoh Yasuhito
(Kyoto University, Kyotodaigaku-Katsura, Nishikyo-ku, Kyoto 615-8510, Japan)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻:
37
号:
3
ページ:
031803-031803-5
発行年:
2019年
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
2166-2746
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)