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著者 (6件)：
資料名：
巻： 54 号： 1 ページ： 31-38 発行年： 2019年04月30日
JST資料番号： Y0541A ISSN： 1349-0958 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：201902222048645339
整理番号：19A1165590
高精度位相シフト電子線ホログラフィーによるIII-V族化合物半導体の精密解析と高速観察への可能性
山本和生
(ファインセラミックスセ ナノ構造研)
,
穴田智史
(ファインセラミックスセ ナノ構造研)
,
仲野靖孝
(ファインセラミックスセ ナノ構造研)
,
野村優貴
(パナソニック)
,
松本実子
(ファインセラミックスセ ナノ構造研)
,
平山司
(ファインセラミックスセ ナノ構造研)
資料名：
顕微鏡
(Microscopy)
巻： 54 号： 1 ページ： 31-38 発行年： 2019年04月30日
JST資料番号： Y0541A ISSN： 1349-0958 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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