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文献
J-GLOBAL ID:201902227504165944   整理番号:19A0440875

二次元検出器によるX線応力測定における統計誤差の研究【JST・京大機械翻訳】

Study on the Statistical Errors in X-Ray Stress Measurement with Two-Dimensional Detector
著者 (3件):
Ejiri Shoichi
(Iwate Medical University, Liberal Arts and Sciences Information Science Center, Shiwa, Japan)
Ohba Hiroaki
(Toyo Electric Mfg. Co., Ltd., Engineering Research Division, Research Laboratory, Yokohama, Japan)
Sasaki Toshihiko
(Kanazawa University, Department of Materials Science and Engineering, Kanazawa, Ishikawa, Japan)

資料名:
Materials Science Forum  (Materials Science Forum)

巻: 941  ページ: 2373-2377  発行年: 2019年 
JST資料番号: D0716B  ISSN: 0255-5476  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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