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著者 (10件)：
資料名：
巻： 37 号： 5 ページ： 052907-052907-6 発行年： 2019年
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201902238430834439
整理番号：19A2399388
分光偏光解析法による異なるT_c0FeSe薄膜の散乱速度の取得【JST・京大機械翻訳】
Obtaining the scattering rate of different Tc0 FeSe thin films via spectroscopic ellipsometry
Shi Yujun
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Lian Jie
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Feng Zhongpei
(National Lab for Superconductivity, Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China)
,
Zhao Minglin
(Department of Physics, Jiangsu University of Science and Technology, Zhenjiang 212003, Jiangsu, China)
,
Jin Kui
(National Lab for Superconductivity, Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China)
,
Song Haonan
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Wei Mingyang
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Dai Kai
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Jiang Qingfen
(School of Information Science and Engineering, and Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Technology and Application, Shandong University, Qingdao 266237, Shandong, China)
,
Fang Jiaxiong
(Advanced Research Center for Optics, Shandong University, Jinan 250100, Shandong, China)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 37 号： 5 ページ： 052907-052907-6 発行年： 2019年
JST資料番号： E0974A ISSN： 2166-2746 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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