文献
J-GLOBAL ID:201902243900115579
整理番号:19A1607166
1200V級SiCデバイスの高効率エッジ終端のためのトレンチフィールドプレートエンジニアリング【JST・京大機械翻訳】
Trench Field Plate Engineering for High Efficient Edge Termination of 1200 V-class SiC Devices
著者 (7件):
Liu Yong
(Department of Electronic and Computer Engineering, The Hong Kong University of Science and Technology, Kowloon, Hong Kong, China)
,
Yang Wentao
(Department of Electronic and Computer Engineering, The Hong Kong University of Science and Technology, Kowloon, Hong Kong, China)
,
Feng Hao
(Department of Electronic and Computer Engineering, The Hong Kong University of Science and Technology, Kowloon, Hong Kong, China)
,
Onozawa Yuichi
(Fuji Electric Co., Ltd, Matsumoto, Nagoya, 390-0821, Japan)
,
Wakimoto Setsuko
(Fuji Electric Co., Ltd, Matsumoto, Nagoya, 390-0821, Japan)
,
Fujishima Naoto
(Fuji Electric Co., Ltd, Matsumoto, Nagoya, 390-0821, Japan)
,
Sin Johnny K.O.
(Department of Electronic and Computer Engineering, The Hong Kong University of Science and Technology, Kowloon, Hong Kong, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ISPSD
ページ:
143-146
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)