文献
J-GLOBAL ID:201902244314239027
整理番号:19A2011590
エピタキシャルHfGe_2形成によるHf-ゲルマニウム化物/n-Ge(001)接触のSchottky障壁高さのさらなる低減【JST・京大機械翻訳】
Further reduction of Schottky barrier height of Hf-germanide/n-Ge(001) contacts by forming epitaxial HfGe2
著者 (5件):
Senga Kazuki
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
,
Shibayama Shigehisa
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
,
Sakashita Mitsuo
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
,
Zaima Shigeaki
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
,
Nakatsuka Osamu
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
IWJT
ページ:
1-2
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)