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文献
J-GLOBAL ID:201902244314239027   整理番号:19A2011590

エピタキシャルHfGe_2形成によるHf-ゲルマニウム化物/n-Ge(001)接触のSchottky障壁高さのさらなる低減【JST・京大機械翻訳】

Further reduction of Schottky barrier height of Hf-germanide/n-Ge(001) contacts by forming epitaxial HfGe2
著者 (5件):
Senga Kazuki
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
Shibayama Shigehisa
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
Sakashita Mitsuo
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
Zaima Shigeaki
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)
Nakatsuka Osamu
(Nagoya University, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2019  号: IWJT  ページ: 1-2  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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