文献
J-GLOBAL ID:201902251389720778
整理番号:19A0036960
OTFTリング発振器の周波数劣化の測定とモデリング【JST・京大機械翻訳】
Measurement and Modeling of Frequency Degradation of an oTFT Ring Oscillator
著者 (5件):
Saito Michiaki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Kyoto, 606-8501, Japan)
,
Shintani Michihiro
(Nara Institute of Science and Technology, Nara, 630-0192, Japan)
,
Kuribara Kazunori
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Ibaraki, 305-8565, Japan)
,
Ogasahara Yasuhiro
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Ibaraki, 305-8565, Japan)
,
Sato Takashi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Kyoto, 606-8501, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
ICSICT
ページ:
1-3
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)