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著者 (11件)：
資料名：
巻： 2019 号： IMW ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201902253176159901
整理番号：19A1489747
大規模超高速in situ特性化による先進FinFETノードにおけるSRAMアレイデバイスへの直接洞察【JST・京大機械翻訳】
Direct insight to SRAM array devices in advanced FinFET nodes by large scale ultra-fast in-situ characterization
Song Yuncheng
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Mann Randy
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Xie Sheng
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Teague Sheridan Lucile C.
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Versaggi Joseph
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Sun Dapeng
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Oh Chong Khiam
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Malta, NY, 12020, USA)
,
Fimmel Dirk
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Dresden, 01109, Germany)
,
Marienfeld Daniel
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Dresden, 01109, Germany)
,
Hoffmann Matthias
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Dresden, 01109, Germany)
,
Finger Wolfgang
(GLOBALFOUNDRIES Inc., Dresden, 01109, Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IMW ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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