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J-GLOBAL ID:201902253851734297   整理番号:19A0898937

神経形態応用のためのTaO_xベースRRAMデバイスにおけるI-V線形性の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation of $I-V$ Linearity in TaOx-Based RRAM Devices for Neuromorphic Applications
著者 (9件):
Sung Changhyuck
(Department of Material Science and Engineering, Center for Single Atom-Based Semiconductor Device, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea)
Padovani Andrea
(MDLab s.r.l., Reggio Emilia, Italy)
Beltrando Bastien
(IM2NP, CNRS, UMR 7334, Aix-Marseille Universite ́, Marseille, France)
Lee Donguk
(Department of Material Science and Engineering, Center for Single Atom-Based Semiconductor Device, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea)
Kwak Myunghoon
(Department of Material Science and Engineering, Center for Single Atom-Based Semiconductor Device, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea)
Lim Seokjae
(Department of Material Science and Engineering, Center for Single Atom-Based Semiconductor Device, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea)
Larcher Luca
(Dipartimento di Scienze e Metodi dell’Ingegneria, Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, Italy)
Della Marca Vincenzo
(IM2NP, CNRS, UMR 7334, Aix-Marseille Universite ́, Marseille, France)
Hwang Hyunsang
(Department of Material Science and Engineering, Center for Single Atom-Based Semiconductor Device, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea)

資料名:
IEEE Journal of the Electron Devices Society  (IEEE Journal of the Electron Devices Society)

巻:ページ: 404-408  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2429A  ISSN: 2168-6734  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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