文献
J-GLOBAL ID:201902257596470203
整理番号:19A1415480
W原子カプセル封じSiクラスタから成る非晶質SiリッチWシリサイド膜の熱安定性【JST・京大機械翻訳】
Thermal stability of amorphous Si-rich W silicide films composed of W-atom-encapsulated Si clusters
著者 (3件):
Okada Naoya
(Japan Science and Technology Agency, PRESTO, 4-1-8 Honcho, Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan)
,
Uchida Noriyuki
(Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
,
Kanayama Toshihiko
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8560, Japan)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
121
号:
22
ページ:
225308-225308-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)