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文献
J-GLOBAL ID:201902264439794349   整理番号:19A1402683

スパッタ法による高配向Bi-Te薄膜の成膜と電子状態解析

著者 (8件):
齊藤雄太
(産業技術総合研)
FONS Paul
(産業技術総合研)
牧野孝太郎
(産業技術総合研)
MITROFANOV Kirill V.
(産業技術総合研)
上杉文彦
(物質・材料研究機構)
竹口雅樹
(物質・材料研究機構)
KOLOBOV Alexander V.
(産業技術総合研)
富永淳二
(産業技術総合研)

資料名:
日本金属学会講演概要(CD-ROM)  (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))

巻: 164th  ページ: ROMBUNNO.369  発行年: 2019年03月06日 
JST資料番号: S0988B  ISSN: 2433-3093  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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