文献
J-GLOBAL ID:201902266363006798
整理番号:19A1873429
テラヘルツ時間領域分光偏光解析法を用いたInNエピ層の電気的性質のキャラクタリゼーション
Characterization of the electrical properties of an InN epilayer using terahertz time-domain spectroscopic ellipsometry
著者 (6件):
MORINO Kenta
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
,
ARAKAWA Shingo
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
,
FUJII Takashi
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
,
MOURI Shinichiro
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
,
ARAKI Tsutomu
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
,
NANISHI Yasushi
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
58
号:
SC
ページ:
SCCB22.1-SCCB22.4
発行年:
2019年06月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)