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文献
J-GLOBAL ID:201902266363006798   整理番号:19A1873429

テラヘルツ時間領域分光偏光解析法を用いたInNエピ層の電気的性質のキャラクタリゼーション

Characterization of the electrical properties of an InN epilayer using terahertz time-domain spectroscopic ellipsometry
著者 (6件):
MORINO Kenta
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
ARAKAWA Shingo
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
FUJII Takashi
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
MOURI Shinichiro
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
ARAKI Tsutomu
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)
NANISHI Yasushi
(Ritsumeikan Univ., Shiga, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 58  号: SC  ページ: SCCB22.1-SCCB22.4  発行年: 2019年06月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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