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文献
J-GLOBAL ID:201902275238266261   整理番号:19A1522633

修正Naフラックス法により成長させたGaNバルク単結晶中の貫通転位における局所電流漏れ

Local current leakage at threading dislocations in GaN bulk single crystals grown by a modified Na-flux method
著者 (5件):
HAMACHI Takeaki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
TOHEI Tetsuya
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
IMANISHI Masayuki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
MORI Yusuke
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
SAKAI Akira
(Osaka Univ., Osaka, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 58  号:ページ: 050918.1-050918.4  発行年: 2019年05月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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