文献
J-GLOBAL ID:201902278983962962
整理番号:19A0909558
EUVリソグラフィープロセスにおけるレジスト被覆と現像プロセスにおけるCD安定性と欠陥性の改善【JST・京大機械翻訳】
Improvement of CD stability and defectivity in resist coating and developing process in EUV lithography process
著者 (9件):
Kamei Yuya
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Kawakami Shinichiro
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Tadokoro Masahide
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Hashimoto Yusaku
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Shimoaoki Takeshi
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Enomoto Masashi
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Nafus Kathleen
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Sonoda Akihiro
(Tokyo Electron Kyushu Ltd. (Japan))
,
Foubert Philippe
(IMEC (Belgium))
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
10809
ページ:
1080924-7
発行年:
2018年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)