文献
J-GLOBAL ID:201902284161853904
整理番号:19A0134606
全波法によるイオノグラムデータからの下部電離層におけるElectron密度プロファイルの推定【JST・京大機械翻訳】
Estimation of Electron Density Profile in the Lower Ionosphere from Ionogram Data by the Full Wave Method
著者 (3件):
Fukami Tetsuo
(Ishikawa College, National Institute of Technology, Tsubata, Ishikawa, 929-0392, Japan)
,
Nagano Isamu
(Kanazawa University, Japan)
,
Higashi Ryoichi
(Ishikawa College, National Institute of Technology, Tsubata, Ishikawa, 929-0392, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
PIERS - Toyama
ページ:
2129-2133
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)