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J-GLOBAL ID：201902284337645332 整理番号：19A1932893

真空アーク遮断後の微粒子によって引き起こされた後期ブレークダウン【JST・京大機械翻訳】

Late Breakdowns Caused by Microparticles After Vacuum Arc Interruption

著者 (8件)：

Ejiri Haruki

(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)

Kumada Akiko

(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)

Hidaka Kunihiko

(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)

Taguchi Yuki

(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)

Inada Yuki

(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)

Yamano Yasushi

(Division of Mathematics, Electronics and Information Sciences, Saitama University, Saitama, Japan)

Iwabuchi Hiroyuki

(Division of Intelligent Systems Engineering, Yokohama National University, Yokohama, Japan)

Kaneko Eiji

(Department of Electrical and Electronics Engineering, University of the Ryukyus, Nishihara, Japan)

資料名：

IEEE Transactions on Plasma Science (IEEE Transactions on Plasma Science)

巻： 47 号： 8 ページ： 3392-3399 発行年： 2019年
JST資料番号： D0036B ISSN： 0093-3813 CODEN： ITPSBD 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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