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著者 (3件)：
資料名：
巻： 32 号： 4 ページ： 434-437 発行年： 2019年
JST資料番号： T0521A ISSN： 0894-6507 CODEN： ITSMED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201902284828849148
整理番号：19A2695761
装置QCデータを用いたVMによる画像センサにおける欠陥数の予測【JST・京大機械翻訳】
Prediction of the Number of Defects in Image Sensors by VM Using Equipment QC Data
Okazaki Toshiya
(Sony Semiconductor Manufacturing Corporation, Kumamoto, Japan)
,
Okusa Kosuke
(Department of Communication Design Science, Faculty of Design, Kyushu University, Fukuoka, Japan)
,
Yoshida Kyo
(Sony Semiconductor Manufacturing Corporation, Kumamoto, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻： 32 号： 4 ページ： 434-437 発行年： 2019年
JST資料番号： T0521A ISSN： 0894-6507 CODEN： ITSMED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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