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J-GLOBAL ID:201902292010550016   整理番号:19A2019239

火星2020のためのX線リソケミストリー(PIXL)のための惑星装置の校正に用いられるX線光学透過プロファイルの経験的導出【JST・京大機械翻訳】

An empirical derivation of the X-ray optic transmission profile used in calibrating the Planetary Instrument for X-ray Lithochemistry (PIXL) for Mars 2020
著者 (4件):
Heirwegh C. M.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
Elam W. T.
(Applied Physics Laboratory, University of Washington, Seattle, Washington)
Flannery D. T.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
Allwood A. C.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)

資料名:
Powder Diffraction  (Powder Diffraction)

巻: 33  号:ページ: 162-165  発行年: 2018年 
JST資料番号: T0527A  ISSN: 0885-7156  CODEN: PODIE2  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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