文献
J-GLOBAL ID:201902292010550016
整理番号:19A2019239
火星2020のためのX線リソケミストリー(PIXL)のための惑星装置の校正に用いられるX線光学透過プロファイルの経験的導出【JST・京大機械翻訳】
An empirical derivation of the X-ray optic transmission profile used in calibrating the Planetary Instrument for X-ray Lithochemistry (PIXL) for Mars 2020
著者 (4件):
Heirwegh C. M.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
,
Elam W. T.
(Applied Physics Laboratory, University of Washington, Seattle, Washington)
,
Flannery D. T.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
,
Allwood A. C.
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
資料名:
Powder Diffraction
(Powder Diffraction)
巻:
33
号:
2
ページ:
162-165
発行年:
2018年
JST資料番号:
T0527A
ISSN:
0885-7156
CODEN:
PODIE2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)