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文献
J-GLOBAL ID:202002223003020067   整理番号:20A0991985

狭ギャップ半導体FeSi薄膜における表面強磁性金属状態の観測

Observation of ferromagnetic and metallic surface states in narrow gap semiconductor FeSi thin films
著者 (12件):
大塚悠介
(東大 工)
金澤直也
(東大 工)
平山元昭
(理研 CEMS)
野本拓也
(東大 工)
有田亮太郎
(東大 工)
有田亮太郎
(理研 CEMS)
塚崎敦
(東北大 金属材料研)
市川昌和
(東大 工)
川崎雅司
(東大 工)
川崎雅司
(理研 CEMS)
十倉好紀
(東大 工)
十倉好紀
(理研 CEMS)

資料名:
日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))

巻: 75  号:ページ: ROMBUNNO.17aD20-3  発行年: 2020年03月23日 
JST資料番号: S0671C  ISSN: 2189-079X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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