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著者 (3件)：
資料名：
巻： 385 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： D0205C ISSN： 0257-8972 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：202002223954323655
整理番号：20A0881773
環境透過型電子顕微鏡のためのダイヤフラムとして低エネルギー窒素イオンビームによって得られたシリコーン系修飾層【JST・京大機械翻訳】
Silicone-based modified layer obtained by low-energy nitrogen ion beam as diaphragm for environmental transmission electron microscope
Tai Yuki
(Graduate School of Science & Engineering, Major of Electronic Engineering, Kindai University, 3-4-1 Kowakae, Higashi-osaka, Osaka 577-0822, Japan)
,
Matsutani Takaomi
(Graduate School of Science & Engineering, Major of Electronic Engineering, Kindai University, 3-4-1 Kowakae, Higashi-osaka, Osaka 577-0822, Japan)
,
Kawasaki Tadahiro
(Japan Fine Ceramics Center, 2-4-1 Mutsuno, Atsuta-ku, Nagoya 456-8587, Japan)
資料名：
Surface & Coatings Technology
(Surface & Coatings Technology)
巻： 385 ページ： Null 発行年： 2020年
JST資料番号： D0205C ISSN： 0257-8972 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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