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J-GLOBAL ID:202002226855299680   整理番号:20A1566140

差動AMRプローブを用いたサブミリメートル分解能を有する裏面スリットの評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of Back-Side Slits with Sub-millimeter Resolution Using a Differential AMR Probe
著者 (6件):
Zaini M. A. H. P.
(Faculty of Electrical & Electronics Engineering, Universiti Malaysia Pahang, Pekan, Pahang, Malaysia)
Saari M. M.
(Faculty of Electrical & Electronics Engineering, Universiti Malaysia Pahang, Pekan, Pahang, Malaysia)
Nadzri N. A.
(Faculty of Electrical & Electronics Engineering, Universiti Malaysia Pahang, Pekan, Pahang, Malaysia)
Halil A. M.
(Faculty of Mechanical & Manufacturing Engineering, University Malaysia Pahang, Pekan, Pahang, Malaysia)
Hanifah A. J. S.
(Faculty of Mechanical & Manufacturing Engineering, University Malaysia Pahang, Pekan, Pahang, Malaysia)
Tsukada K.
(Graduate School of Interdisciplinary Science and Engineering in Health Systems, Okayama University, Okayama, Japan)

資料名:
Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)

巻: 666  ページ: 319-328  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5070A  ISSN: 1876-1100  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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