文献
J-GLOBAL ID:202002227183696352
整理番号:20A0218699
リサイクルと偽造のフラッシュメモリ検出のための使用期間と製造者の機械学習支援の正確な推定【JST・京大機械翻訳】
Machine Learning Assisted Accurate Estimation of Usage Duration and Manufacturer for Recycled and Counterfeit Flash Memory Detection
著者 (4件):
Chattopadhyay Saranyu
(Indian Institute of Technology Kharagpur)
,
Kumari Preeti
(University of Alabama in Huntsville)
,
Ray Biswajit
(University of Alabama in Huntsville)
,
Chakraborty Rajat Subhra
(Indian Institute of Technology Kharagpur)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ATS
ページ:
49-495
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)