Sorry, this section is only available in Japanese.
前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:202002227285347447   整理番号:20A0145539

1E I&Cシステムプラットフォームの変更のための試験方法の研究と応用【JST・京大機械翻訳】

The Research and Application of Test Method for 1E I&C System Platform’s Change
著者 (6件):
Jia Hu-Jun
(CTEC, Beijing, China)
Wu Yao
(CTEC, Beijing, China)
Dong Xiao-Sheng
(CTEC, Beijing, China)
Qi Min
(CTEC, Beijing, China)
Lv Xiu-Hong
(CTEC, Beijing, China)
Chen Hong-Yan
(CTEC, Beijing, China)

資料名:
Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)

巻: 595  ページ: 194-201  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5070A  ISSN: 1876-1100  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。