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文献
J-GLOBAL ID:202002227388725709   整理番号:20A0467274

無加圧焼結されたAgナノ粒子の疲労き裂進展特性におよぼす時効の影響

著者 (4件):
大崎滉二
(芝浦工大 大学院)
苅谷義治
(芝浦工大 工)
水村宜司
(ナミックス)
佐々木幸司
(ナミックス)

資料名:
Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics  (Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics)

巻: 26th  ページ: 59-64  発行年: 2020年01月28日 
JST資料番号: L2496A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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