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文献
J-GLOBAL ID:202002227746245602   整理番号:20A1531857

材料研究のための回折コントラストを用いた電子断層撮影法

Electron tomography imaging methods with diffraction contrast for materials research
著者 (20件):
HATA Satoshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
FURUKAWA Hiromitsu
(System in Frontier Inc., Tokyo, JPN)
GONDO Takashi
(Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN)
HIRAKAMI Daisuke
(Nippon Steel Corp., Chiba, JPN)
HORII Noritaka
(System in Frontier Inc., Tokyo, JPN)
IKEDA Ken-Ichi
(Hokkaido Univ., Hokkaido, JPN)
KAWAMOTO Katsumi
(System in Frontier Inc., Tokyo, JPN)
KIMURA Kosuke
(Toray Res. Center, Inc., Shiga, JPN)
MATSUMURA Syo
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
MITSUHARA Masatoshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
MIYAZAKI Hiroya
(Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN)
MIYAZAKI Shinsuke
(Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN)
MIYAZAKI Shinsuke
(Thermo Fisher Scientific, Tokyo, JPN)
MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro
(Virginia Tech, VA, USA)
MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro
(Pacific Northwest National Lab., WA, USA)
MURAYAMA Mitsu Mitsuhiro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
NAKASHIMA Hideharu
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
SAITO Hikaru
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
SAKAMOTO Masashi
(Nippon Steel Corp., Chiba, JPN)
YAMASAKI Shigeto
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)

資料名:
Microscopy  (Microscopy)

巻: 69  号:ページ: 141-155  発行年: 2020年06月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 2050-5698  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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