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J-GLOBAL ID:202002233462293528   整理番号:20A0829960

宇宙機高分子における絶縁破壊データへの電圧ステップアップの物理駆動二重欠陥モデル適合【JST・京大機械翻訳】

Physics-Driven Dual-Defect Model Fits of Voltage Step-Up to Breakdown Data in Spacecraft Polymers
著者 (2件):
Andersen Allen
(Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology,Pasadena,CA,USA,91109)
Dennison JR
(Utah State University,Materials Physics Group,Logan,UT,USA,84322)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2019  号: CEIDP  ページ: 14-17  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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