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文献
J-GLOBAL ID:202002239792297225   整理番号:20A1580377

二層MoS_2におけるゲート誘起キャリア蓄積に及ぼす層間積層の影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of Interlayer Stacking on Gate-Induced Carrier Accumulation in Bilayer MoS2
著者 (3件):
Maruyama Mina
(Department of Physics, Graduate School of Pure and Applied Sciences, University of Tsukuba, Japan)
Nagashio Kosuke
(Department of Materials Engineering, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo, Japan)
Okada Susumu
(Department of Physics, Graduate School of Pure and Applied Sciences, University of Tsukuba, Japan)

資料名:
ACS Applied Electronic Materials  (ACS Applied Electronic Materials)

巻:号:ページ: 1352-1357  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5669A  ISSN: 2637-6113  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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