文献
J-GLOBAL ID:202002242824432986
整理番号:20A0495743
重イオンを用いた強誘電体ランダムアクセスメモリにおけるSEEモードの解析【JST・京大機械翻訳】
Analysis of SEE modes in ferroelectric random access memory using heavy ions
著者 (5件):
Wei Jia-Nan
(Xi’an Jiaotong University,School of Nuclear Science and Technology,Xi’an,China,710049)
,
Guo Hong-Xia
(Xiangtan University,Key Laboratory for Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan,China,411105)
,
Zhang Feng-Qi
(Northwest Institute of Nuclear Technology,State Key Laboratory of Intense Pulsed Irradiation Simulation and Effect,Xi’an,China,710024)
,
Guo Gang
(China Institute of Atomic Energy,National Innovation Center of Radiation Application,Beijing,China,102413)
,
He Chao-Hui
(Xi’an Jiaotong University,School of Nuclear Science and Technology,Xi’an,China,710049)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
IPFA
ページ:
1-5
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)