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著者 (4件)：
資料名：
巻： 2019 号： IEDM ページ： 39.2.1-39.2.4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：202002244353459455
整理番号：20A0910449
効率的な可変性と信頼性を意識したデバイス回路の共設計:トラップ挙動から回路性能へ【JST・京大機械翻訳】
Efficient Variability- and Reliability-aware Device-Circuit Co-Design: From Trap Behaviors to Circuit Performance
Chen Wangyong
(Peking University,Institute of Microelectronics,Beijing,China,100871)
,
Cai Linlin
(Peking University,Institute of Microelectronics,Beijing,China,100871)
,
Du Gang
(Peking University,Institute of Microelectronics,Beijing,China,100871)
,
Liu Xiaoyan
(Peking University,Institute of Microelectronics,Beijing,China,100871)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IEDM ページ： 39.2.1-39.2.4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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