文献
J-GLOBAL ID:202002253690306052
整理番号:20A0913262
産業機器のためのSEGANとKL発散に基づく弱故障診断法【JST・京大機械翻訳】
Weak Fault Diagnosis Method Based on SEGAN and KL Divergence for Industrial Equipment
著者 (3件):
Ni Xueqing
(Northeastern University,College of Information Science and Engineering,Shenyang,China)
,
Yang Dongsheng
(Northeastern University,College of Information Science and Engineering,Shenyang,China)
,
Pang Yongheng
(Northeastern University,College of Information Science and Engineering,Shenyang,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
SSCI
ページ:
327-331
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)