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資料名：
号： MC-19-013-019/ASC-19-019-025 金属・セラミックス研究会/超電導機器研究会 ページ： 9-14 発行年： 2019年12月19日
JST資料番号： Z0924B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：202002253897089889
整理番号：20A0185116
MgB2大容量導体における素線変形に起因する特性劣化と拡張有限要素解析
Investigation on critical current degradation caused by strand deformation in a MgB2 large-scale conductor with extended finite element method
谷貝剛
(上智大)
,
平萌人
(上智大)
,
桑原優介
(上智大)
,
高尾智明
(KEK)
,
槙田康博
(KEK)
,
新冨孝和
(KEK)
,
駒込敏弘
(前川製作所)
,
塚田謙一
(前川製作所)
,
星野昌幸
(前川製作所)
,
平野直樹
(NIFS)
,
恩地太紀
(鉄道総合技術研)
,
富田優
(鉄道総合技術研)
,
宮城大輔
(千葉大)
,
津田理
(東北大)
,
濱島高太郎
(前川製作所)
資料名：
電気学会研究会資料
号： MC-19-013-019/ASC-19-019-025 金属・セラミックス研究会/超電導機器研究会 ページ： 9-14 発行年： 2019年12月19日
JST資料番号： Z0924B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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