文献
J-GLOBAL ID:202002255150261585
整理番号:20A2619833
多重線形回帰と多項式フィッティングに基づくSiC JBSのための磁場制限リング間隔パラメータ法【JST・京大機械翻訳】
Method of field limiting rings spacing parameter for SiC JBS based on multiple linear regression and polynomial fitting
著者 (6件):
Tang Maosen
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Jun Shen
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Zhou Zhengdong
(Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co., LTD,SiC Chip Product Development Dept.,Zhuzhou,China)
,
Ge Xinglai
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Liu Dong
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
,
Zhou Rongbin
(Southwest Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Chengdu,China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
ICIEA
ページ:
1859-1863
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)