文献
J-GLOBAL ID:202002255612312878
整理番号:20A1604045
サブミクロンイメージング質量分析用の二次中性質量分析計の開発
Development of a Secondary Neutral Mass Spectrometer for submicron Imaging mass spectrometry
著者 (8件):
KAWAI Yosuke
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TERADA Kentaro
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
HONDO Toshinobu
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
HONDO Toshinobu
(MS-Cheminformatics, LLC, Inabe-gun, JPN)
,
AOKI Jun
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ISHIHARA Morio
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TOYODA Michisato
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NAKAMURA Ryosuke
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
JPS Conference Proceedings (Web)
(JPS Conference Proceedings (Web))
巻:
31
ページ:
ROMBUNNO.011065 (WEB ONLY)
発行年:
2020年03月27日
JST資料番号:
U1201A
ISSN:
2435-3892
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)