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著者 (5件)：
資料名：
巻： 5 ページ： 151-156 発行年： 2020年08月
JST資料番号： F1885A ISSN： 2189-4752 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：202002256344428215
整理番号：20A1829909
フレキシブル基板上のMgAg合金トップ層と有機半導体下層による多層薄膜における剥離界面の観察
Observing the Delamination Interface in Multi Layered Thin Films with a MgAg Alloy Top Layer and Organic Semiconductor under Layers on a Flexible Substrate
KOBAYASHI Toshiro
(National Inst. of Technol., Okayama, JPN)
,
FURUMOTO Hideaki
(Hiroshima Kokusai Gakuin Univ., Hiroshima, JPN)
,
YAMAGUCHI Akinobu
(Univ. Hyogo, Hyogo, JPN)
,
KANEMATSU Hideyuki
(National Inst. of Technol., Suzuka, JPN)
,
GRUESCU Ion Cosmin
(Inst. Univrsitaire de Technol. A de Lille, Villeneuve d’Ascq, FRA)
資料名：
Advanced Experimental Mechanics
(Advanced Experimental Mechanics)
巻： 5 ページ： 151-156 発行年： 2020年08月
JST資料番号： F1885A ISSN： 2189-4752 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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