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J-GLOBAL ID:202002260646871016   整理番号:20A0835767

下部電離層における全波法を用いた観測イオノグラムからのIRIElectron密度プロファイルの修正【JST・京大機械翻訳】

Modification of the IRI Electron Density Profile from an Observation Ionogram Using the Full Wave Method in the Lower Ionosphere
著者 (3件):
Fukami Tetsuo
(National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392)
Nagano Isamu
(Kanazawa University,Japan)
Higashi Ryoichi
(National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2019  号: PIERS-Spring  ページ: 2764-2767  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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