文献
J-GLOBAL ID:202002264853282221
整理番号:20A0818768
走査型内部光電子顕微鏡を用いた金属/半導体および半導体/半導体界面のマッピング【JST・京大機械翻訳】
Mapping of Metal/Semiconductor and Semiconductor/Semiconductor Interfaces Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
著者 (1件):
Shiojima Kenji
(Graduate School of Electrical and Electronics Engineering, University of Fukui,Fukui,Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
ICSJ
ページ:
169-172
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)