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著者 (13件)：
資料名：
号： 10 ページ： 366-373 発行年： 2020年10月05日
JST資料番号： S0128B ISSN： 0386-2178 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：202002266080997859
整理番号：20A2302263
ナノ材料適正管理のための複合計測システムの開発
Development of Combined Measurement System for Appropriate Management of Nanomaterials.
一村信吾
(早稲田大 リサーチイノベーションセ)
,
加藤晴久
(産業技術総合研 計量標準総合セ)
,
堀池重吉
(島津製作所 基盤技研)
,
杉沢寿志
(日本電子)
,
黒河明
(産業技術総合研 物質計測標準研究部門)
,
熊谷和博
(産業技術総合研 計量標準総合セ)
,
白川部喜春
(日立ハイテク)
,
重藤知夫
(産業技術総合研 計量標準総合セ)
,
山口哲司
(堀場製作所 第2製品開発セ)
,
高橋かより
(産業技術総合研)
,
井上信介
(島津製作所)
,
稲垣和三
(産業技術総合研)
,
藤本俊幸
(産業技術総合研 計量標準総合セ)
資料名：
ぶんせき
号： 10 ページ： 366-373 発行年： 2020年10月05日
JST資料番号： S0128B ISSN： 0386-2178 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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