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J-GLOBAL ID:202002268036196895   整理番号:20A2241951

角度分解飛行時間電子分析器を用いた時間分解X線光電子回折

Time-resolved X-ray photoelectron diffraction using an angle-resolved time-of-flight electron analyzer
著者 (12件):
Ang Artoni Kevin R.
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
Fukatsu Yuichiro
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
Kimura Koji
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
Yamamoto Yuta
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
Yonezawa Takahiro
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
Nitta Hirokazu
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
Fleurence Antoine
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
Yamamoto Susumu
(The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan)
Matsuda Iwao
(The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan)
Yamada-Takamura Yukiko
(School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan)
Hayashi Kouichi
(Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
Hayashi Kouichi
(Frontier Research Institute for Materials Science, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 59  号: 10  ページ: 100902 (5pp)  発行年: 2020年10月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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