文献
J-GLOBAL ID:202002276450336155
整理番号:20A1088082
波長分解中性子イメージングを用いたTlBr半導体検出器の結晶特性評価
Crystalline Characterization of TlBr Semiconductor Detectors Using Wavelength-resolved Neutron Imaging
著者 (6件):
WATANABE Kenichi
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MATSUMOTO Kio
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
UNITANI Akira
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
HITOMI Keitaro
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
NOGAMI Mitsuhiro
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KOCKELMANN Winfried
(Rutherford Appleton Lab., Harwell, GBR)
資料名:
Sensors and Materials
(Sensors and Materials)
巻:
32
号:
4 (2)
ページ:
1435-1443
発行年:
2020年
JST資料番号:
L0338A
ISSN:
0914-4935
CODEN:
SENMER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)