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文献
J-GLOBAL ID:202002277968213306   整理番号:20A0830704

HV60V N/PLDMOSデバイスにおけるドレイン側ヘテロ接合デバイス添加のESDイミュニティへの影響【JST・京大機械翻訳】

ESD Immunity Impacts of the Drain-Side Heterojunction Device Addition in HV 60 V n/pLDMOS Devices
著者 (5件):
Fan Sheng-Kai
(National United University,Department of Electronic Engineering)
Chen Shen-Li
(National United University,Department of Electronic Engineering)
Jhou Yu-Lin
(National United University,Department of Electronic Engineering)
Wu Pei-Lin
(National United University,Department of Electronic Engineering)
Lin Po-Lin
(National United University,Department of Electronic Engineering)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2019  号: GCCE  ページ: 81-82  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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